TY  - JOUR
AU  -  Jooypa, H.
AU  - Dideban, D.
TI  - آنالیز و گسترش مدل  فشرده زمان تأخیر انتشار گیت‌های NAND فناوری CMOS نانومتری در مقابل تغییرات آماری فرآیند ساخت
JO  - فصلنامه مهندسی برق و مهندسی کامپيوتر ايران
VL  - 15
IS  - 4
SP  - 285
EP  - 292
PY  - 2018
DO  - 
ER  -